Quellmaß-Einheit
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Prüfung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitern SMU Einheit S100 DC 30V 1A SMU Messung
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:Einheit zur Prüfung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitern, Einheit für kleine und mittlere Einheiten DC S100, S100 30V 1A SMU-Messung
Prüfung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitern SMU Einheit S100 DC 30V 1A SMU Messung
Die von PRECISE INSTRUMENT sorgfältig hergestellte Quellenmessvorrichtung S100 ist ein herausragender Vertreter der heimischen Prüfgeräte.Es bricht das langjährige Monopol ausländischer Technologie und bie... Mehr sehen
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Einheit DP100B mit Spannungs- / Strommessung
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:30V 30A Doppelkanalquellenmesser, DP100B Quelle Meter Einheit, Spannungs-Strom-SMU-Einheit
Einheit DP100B mit Spannungs- / Strommessung
Die DP100B-Doppelkanal-Pulsmessgerät für den Arbeitsplatz mit hoher Präzision ist die neu entwickelte hochpräzise, große dynamische,Digitale Touch-Quellmessungseinheit, die auf der Basis einer Single-Channel-Pulse-Desktop-QuellmessungseinheitEs integriert... Mehr sehen
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18V 1A Vier-Kanal-Subkarte Impulskörper-Messungseinheit CBI403 SMU Messung
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:18V 1A Vierkanalquelle Messung, Subkarten-Pulsquelle-Messungseinheit, CBI403 KMU-Messung
18V 1A Vier-Kanal-Subkarte Impulskörper-Messungseinheit CBI403 SMU Messung
Die modulare Subkarte CBI401 gehört zur Familie der CS-Serie-Quellmessgeräte (Source Measure Unit, SMU), die für eine hochpräzise elektrische Charakterisierung mit hohem dynamischem Bereich entwickelt wurde.Seine modulare Arc... Mehr sehen
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300A 30V Pulsstromversorgung Hochstromquelle HCPL030 für SiC IGBT GaN HEMT-Prüfung
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:300A 30V Pulsstromversorgung, 300A 30V Hochstromquelle, HEMT-Prüfimpuls-Stromversorgung
300A 30V Pulsstromversorgung Hochstromquelle HCPL030 für SiC IGBT GaN HEMT-Prüfung
Die HCPL030-Serie Hochstrom-Impuls-Stromversorgung ist eine Pulskonstante-Stromquelle.mit einem externen Steuerelement), Unterstützung für die Zwei-Kanal-Impulsspannungsmessung (Peak Sampling) und Unterstützung für di... Mehr sehen
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1200V 100mA Hochspannungs-Stromquelle-Messungseinheit für IGBT-Ausfallspannungstest
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:Maßeinheit für Hochspannungsstromquelle, 1200V 100mA Hochspannungsstromquelle, IGBT-Ausfall Hochspannungsstromquelle
1200V/100mA Hochspannungs-Stromquelle für IGBT-Ausfallspannungstest
Der E100 ist eine leistungsstarke Hochspannungsquellenmessvorrichtung, die speziell für Hochspannungstests entwickelt wurde.und schwache Stromsignale von 1nA genau messenDer E100 unterstützt Betriebsmodi mit Konstanten Spannung und ... Mehr sehen
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20A CW / 20A QCW Test Laserstromversorgung HCPL002 Hochleistungsdioden Laserstromversorgung
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:20A QCW Testing Laser Stromversorgung, 20A CW Laserstromversorgung zur Prüfung, HCPL002 Diodenlaserstromversorgung
20A CW / 20A QCW Test Laserstromversorgung HCPL002 Hochleistungsdioden Laserstromversorgung
HCPL002 ist eine hochleistungsfähige Lasertest-Stromversorgung, die mit fortschrittlicher Technologie auf die anspruchsvollsten Prüfbedürfnisse zugeschnitten ist.und die CW- und QCW-Ströme können bis zu 20A e... Mehr sehen
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1MS/S A400 Datenerfassungskarte 4 Kanäle 16 Bit ADC Auflösung Daq-Karte
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:A400 Datenerfassungskarte, 16 Bit ADC Auflösung Daq-Karte, 4 Kanäle Datenerfassungskarte
1MS/S A400 Datenerfassungskarte 4 Kanäle 16 Bit ADC Auflösung Daq-Karte
Die Datenerfassungskarte A400 ist ein von Psysi unabhängig entwickelter und entwickelter Plug-in-Kartentyp, der eine variable Probenahme und eine große Datenspeicherung ermöglicht.mit 4 Kanälen in einer einzelnen Karte und bis z... Mehr sehen
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LDBI-Laseralterung Halbleiterprüfsysteme Mehrkanalprüfsystem
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:Laseralterung Halbleiterprüfsysteme, LDBI-Halbleiterprüfsysteme, Multi-Channel-Stromgeräte-Analysator
LDBI-Laseralterung Halbleiterprüfsysteme Mehrkanalprüfsystem
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and agingEs hat ei... Mehr sehen
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